【ITBEAR】近日,華為技術(shù)有限公司在知識產(chǎn)權(quán)領(lǐng)域取得新進展。據(jù)國家知識產(chǎn)權(quán)局發(fā)布的消息,華為成功獲得了一項名為“基于視覺的體積測量方法及終端設備”的專利,該專利的授權(quán)公告號為CN 113538321 B。這項專利的申請日期可以追溯到2020年3月。
華為此項專利的獲批,無疑將進一步鞏固其在技術(shù)創(chuàng)新和知識產(chǎn)權(quán)保護方面的領(lǐng)先地位。
【ITBEAR】近日,華為技術(shù)有限公司在知識產(chǎn)權(quán)領(lǐng)域取得新進展。據(jù)國家知識產(chǎn)權(quán)局發(fā)布的消息,華為成功獲得了一項名為“基于視覺的體積測量方法及終端設備”的專利,該專利的授權(quán)公告號為CN 113538321 B。這項專利的申請日期可以追溯到2020年3月。
華為此項專利的獲批,無疑將進一步鞏固其在技術(shù)創(chuàng)新和知識產(chǎn)權(quán)保護方面的領(lǐng)先地位。